高温動作

ZTは、150℃で20年間のデータ保持が可能です。また、車載品質のサポート実績があります。

テスト時間が短縮可能

低コスト

テスト時間の短縮

1. 書き込み/消去時の消費電力が非常に小さいため、テスト時にはメモリマット全体を一度に書き込み/消去することができます。従来の書き込み方式のように小さなセクションを何度も消去してメモリマット全体を書き込み/消去する必要がありません。
2. 書き込み後のメモリのVt分布は均一のため、書き込みベリファイが不要かつ書き込み動作が一回で完了するため、書き込み時間が短縮されます。

ベーク時間の短縮

フローディア独自のメモリ構造は、メモリセルの寿命予測を簡素化し、チップ会社のスクリーニングのためのベーク時間を短縮することができます。

マスク０

ZTは、標準的なCMOSプロセスの変更や追加のマスクを必要とせず、チップに不揮発性メモリを実装するためのコスト増加はありません。

フィールドプログラマビリティ

ZTを採用することで、システム製品を出荷時だけでなく既に市場のシステムに組み込まれ稼働中の製品のトリミング値/パラメータ設定を書き換え・調整することができます。